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500kV线路合成绝缘子端部密封性能试验研究
被引：2
作者：
刘志刚
洪延风
郝兰荣
机构：
[1] 张家口供电公司!(河北张家口),北京供电公司!(北京),北京供电公司!(北京)
来源：
关键词：
合成绝缘子;
端部界面;
密封;
脆断;
D O I：
10.16308/j.cnki.issn1003-9171.2001.04.001
中图分类号：
TM855 [绝缘的试验与检查];
学科分类号：
摘要：
端部密封破坏是造成合成绝缘子脆断和内绝缘击穿等恶性事故的主要原因之一 ,但有关合成绝缘子端部密封的试验尚未充分被有关部门所接受 ,亦未形成正式国家或行业标准。张家口供电公司及其它有关单位遵照华北电力集团公司指示 ,积极配合华北电力科学研究院有限责任公司进行了华北电网 50 0 k V线路合成绝缘子端部密封性能的试验研究 ,掌握了京津唐电网中运行3～ 5年合成绝缘子端部密封性能的第一手资料
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