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线阵CCD图像特点及识别算法适应性研究
被引:11
作者
:
徐晓秋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
四川大学制造学院
徐晓秋
秦玉芳
论文数:
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机构:
四川大学制造学院
秦玉芳
黄劼
论文数:
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机构:
四川大学制造学院
黄劼
机构
:
[1]
四川大学制造学院
来源
:
半导体光电
|
2006年
/ 02期
关键词
:
机器视觉;
线阵CCD;
识别精度;
识别算法;
D O I
:
10.16818/j.issn1001-5868.2006.02.024
中图分类号
:
TP391.41 [];
TN386.5 [电荷耦合器件];
学科分类号
:
080203 ;
摘要
:
针对线阵CCD扫描图像识别精度难以提高的问题,深入分析了扫描运动对图像质量的影响,指出行距不均匀和扫描位置重复性差是影响识别精度的关键因素,在此基础上,提出了沿像元排列方向搜索边缘点,用曲线拟合识别圆心坐标的方法,避免了扫描行距对识别的影响,实验证明,该方法有效可行,识别精度可达亚像素级。
引用
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页码:196 / 199
页数:4
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