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聚丙烯/氢氧化铝复合体系界面作用的XPS研究
被引:6
作者
:
任殿胜
论文数:
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引用数:
0
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0
机构:
机电部研究所
任殿胜
王建祺
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机构:
机电部研究所
王建祺
吴文辉
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0
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0
机构:
机电部研究所
吴文辉
机构
:
[1]
机电部研究所
[2]
北京理工大学
[3]
北京理工大学 天津
[4]
北京
来源
:
高分子材料科学与工程
|
1993年
/ 01期
关键词
:
聚丙烯;
氢氧化铝;
X射线光电子能谱;
D O I
:
10.16865/j.cnki.1000-7555.1993.01.021
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文对氢氧化铝填充的聚丙烯复合材料进行了研究,实验表明,氢氧化铝/KH-792偶联剂/丙烯酸接枝聚丙烯/聚丙烯复合体系中的各项力学性能最佳,在填充60%的氢氧化铝时,仍可保持较好的力学性能。用X射线光电子能谱(XPS或ESCA)对该体系进行了研究,结果证实,各组分之间能发生化学键作用,相互之间能通过化学键连为一体,因而力学性能可保持最优。
引用
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页数:4
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Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy.Perkin-Elmer Corporation Physical Electronics Division, Printed in U. Wagner CD,et al. S. A . 1979
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