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薄膜生长的多重分形谱的计算
被引:22
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
孙霞
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
傅竹西
吴自勤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学技术大学基础物理中心!安徽合肥
吴自勤
机构
:
[1]
中国科学技术大学基础物理中心!安徽合肥
[2]
中国科学技术大学物理系!安徽合肥
来源
:
计算物理
|
2001年
/ 03期
关键词
:
多重分形谱;
标度不变性;
权重因子;
D O I
:
10.19596/j.cnki.1001-246x.2001.03.011
中图分类号
:
O484 [薄膜物理学];
O415.5 [混沌理论];
学科分类号
:
080501 ;
1406 ;
摘要
:
规则分形具有理想的标度不变性 ,而随机分形 (如薄膜生长 )概率分布曲线及标度不变性的范围与计算方法有关 :以偏离平均高度的方差值求概率 ,标度不变性不好 ,多重分形谱也不光滑 ;而以薄膜平均底面为基准面求概率得到的标度不变性可延伸到 3个数量级 ,多重分形谱光滑 .采用外延的方法修正灰度设置的偏移可以对多重分形谱有所改善 .另外 ,讨论了权重因子 q取值范围的影响 ,确定了 q的取值范围 .
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页码:247 / 252
页数:6
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共 2 条
[1]
多重分形谱及其在材料研究中的应用[J].王晓平,吴自勤. 物理.1999(06)
[2]
Multifractalbehaviorofthedistributionofsecondary-electron-emissionsitesonsolidsurfaces.2LiH,DingZJ,WuZQ.PhysRevB.1995
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