二维表面粗糙度最小二乘评定基准线的改进

被引:6
作者
王中宇
付继华
孟浩
机构
[1] 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院精密光机电一体化技术教育部重点实验室
关键词
计量学; 表面粗糙度; 最小二乘法; 评定基准;
D O I
暂无
中图分类号
TG84 [表面光洁度(表面粗糙度)的测量及其量仪];
学科分类号
0805 ;
摘要
现行国家标准中二维表面粗糙度评定的最小二乘基准线为折线,并且存在间断现象。对现行最小二基准线进行了改进,用最小二乘直线在整个评定长度内进行滑动和平均,将获得的光滑曲线作为表面粗糙度的评定基准线。通过算例和仿真分析,改进的最小二乘方法能够描述缓变、连续曲线。该基准线与国际标准推荐的高斯基准线具有较好的一致性,并且粗糙度的评定结果相同。改进的最小二乘基准线对现行标准的最小二乘基准改动小,继承了现行最小二乘基准计算简便和实用的特点,评定过程中不损失轮廓数据,评定基准线光滑、连续,消除了现行最小二乘基准线间断的现象。
引用
收藏
页码:203 / 206
页数:4
相关论文
共 7 条
[1]   花岗石抛光表面的粗糙度、分形维数及其关系研究 [J].
王建军 ;
徐西鹏 .
计量学报, 2007, (02) :124-128
[2]   MOTIF合并算法研究 [J].
郭军 ;
谢铁邦 .
计量学报, 2004, (03) :207-210
[3]   表面粗糙度的稳健提取方法研究 [J].
曾文涵 ;
谢铁邦 ;
蒋向前 ;
李柱 .
中国机械工程, 2004, (02) :35-38
[4]   三维表面粗糙度高斯滤波快速算法 [J].
曾文涵 ;
高咏生 ;
谢铁邦 ;
李柱 .
计量学报, 2003, (01) :10-13
[5]   表面粗糙度评定的小波基准线 [J].
陈庆虎 ;
李柱 .
计量学报, 1998, (04) :16-19
[6]   Surface roughness evaluation by using wavelets analysis [J].
Chen, QH ;
Yang, SN ;
Li, Z .
PRECISION ENGINEERING-JOURNAL OF THE AMERICAN SOCIETY FOR PRECISION ENGINEERING, 1999, 23 (03) :209-212
[7]  
A fast gauss filtering algorithm for roughness measurements[J] . Michael Krystek.Precision Engineering . 1996 (2)