气-固流化床压力波动功率谱指数衰减与阵发性混沌行为探讨

被引：11

作者：

赵贵兵

石炎福

机构：

[1] 浙江大学化工系,四川大学化工系浙江杭州,四川成都

来源：

过程工程学报 | 2002年 / 02期

关键词：

压力波动; 功率谱指数衰减; 阵发性混沌; 层流区时间长度; 雷诺数;

D O I：

暂无

中图分类号：

TQ02 [化工过程（物理过程及物理化学过程）];

学科分类号：

080706 [化工过程机械];

摘要：

根据功率谱低频发散与阵发性混沌本质之间的联系,通过分析压力波动信号的功率谱指数衰减,并结合互信息函数分析,证实了流态化动力学所具有的阵发性混沌特性. 研究表明,随气速增加,压力波动层流区时间长度逐渐缩短,混沌越来越频繁地阵发,最终通向完全混沌状态. 此外,研究了层流区时间长度与雷诺数之间的关系,表明层流区时间长度随气速增加呈指数衰减,流态化动力学呈现出I型阵发机制.

引用

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共 5 条

[1]

流化床压力波动混沌预测 [J].