EWT背结电池中的激光刻槽及腐蚀工艺的研究

被引:2
作者
刘维 [1 ]
周春兰 [2 ]
唐煜 [2 ]
王文静 [2 ]
赵海雷 [1 ]
机构
[1] 北京科技大学材料学院
[2] 中科院电工研究所
关键词
EWT背结电池; 激光刻槽; 损伤层; 少子寿命;
D O I
暂无
中图分类号
TM914.4 [太阳能电池];
学科分类号
080502 ;
摘要
采用激光刻槽的方法制备电池背面结构,用化学腐蚀的方法对槽区进行清槽和刻蚀损伤层处理。当激光刻槽工艺参数为I=7.4A,v=50mm/s,激光步长为20μm时,通过改变腐蚀溶液浓度n、腐蚀温度T、和腐蚀时间t等工艺参数,可以有效控制槽区的几何形状。结果发现,当n=12%(w/v)、T=80℃、t=20~30min时,所得槽区表面平整光滑而侧壁垂直陡峭,同时损伤层也得到较为理想的刻蚀效果,能满足后续工艺的制备要求。激光刻槽工艺简单效率高,在保证电池效率的基础上降低了成本,适合EWT背结电池产业化。
引用
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Bcak contact buried contact multicrystal siliocn solar cells. Wolfgang Jooβ. . 2002
[2]  
Improvement in silicon solar cell efficiency. Green M A,,Blakevs A W,Narayanan S,et al. 18th IEEE Photovoltaic Specialists Conference . 1985
[3]  
Emitter wrap through solar cells using electroless plating metallisation. Knauss H,,Jooss W,Roberts S. Proceedings of the 17th EPVSC . 2001
[4]  
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/palankovski/ .
[5]  
Practical handbook of photovo-ltaics:fundamentals and applications. Markvart T,Casta!er L. . 2003
[6]  
The RISEEWT solar cell-a new approach towards simple high efficiency silicon solar cells. Peter Engelhart,,Andreas Teppe,Agnes Merkle. 15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference . 2005