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利用相关技术测量激光脉冲的对比度
被引：4
作者：
王益民
韩申生
张正泉
徐至展
机构：
[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所
来源：
关键词：
相关测量，对比度;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN247 [光检测技术];
学科分类号：
0803 ;
080401 ;
080901 ;
摘要：
研究了在放大激光脉冲的噪声测量中，二阶相关技术和三阶相关技术的差别。理论分析显示，三阶相关技术不仅可以显示噪声脉冲的正确位置，而且具有比二阶相关技术更高的测量精度，数值计算也验证了这一点
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