有耗媒质的PML技术及其在目标探测中的应用

被引：11

作者：

王均宏

机构：

[1] 北方交通大学光波所!北京

来源：

电子学报 | 1999年 / 09期

关键词：

吸收边界条件,有耗媒质,目标探测,天线,散射;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN82 [天线];

学科分类号：

080906 [电磁信息功能材料与结构];

摘要：

完全匹配层是近年来迅速发展起来的一种非常有效的吸收边界．本文进一步将非分裂完全匹配层技术扩展到有耗媒质，并将它与时域有限差分法一起用于研究有耗媒质中的目标探测问题．文中具体讨论了计算模型、天线加载以及完全匹配层媒质参数的选取；详细分析了收发天线以及收发天线与有耗媒质之间的相互耦合关系．最后给出了有耗媒质中存在空洞、金属管等散射体时，天线在媒质表面扫描所得的波形图．本文中的方法和模型更接近实际，可用于建立有耗媒质中目标探测波形的数据库，供实际参考．

引用

页码：5 / 8+11 +11

页数：5