基于图像分析技术的实用相位恢复去包裹技术

被引：2

作者：

刘晓军

章明

高咏生

李柱

机构：

[1] 武汉华中理工大学机械学院!湖北武汉

[2] 台湾中原大学机械工程系

[3] 香港科技大学机械系

来源：

光学技术 | 2000年 / 04期

关键词：

相位恢复; 去包裹; 图像分析;

D O I：

10.13741/j.cnki.11-1879/o4.2000.04.022

中图分类号：

TP391.4 [模式识别与装置];

学科分类号：

0811 ; 081101 ; 081104 ; 1405 ;

摘要：

相位恢复去包裹技术是相移干涉中的重要环节。本文介绍一种去包裹的新算法 ,该算法基于相位连续平滑的特点 ,在传统算法的基础上 ,提出包裹点判断门限的智能确定方法。引入图像分析处理技术 ,以识别并修正传统算法产生的误差点和由于误差点延伸产生的畸变点。应用结果表明 ,此算法不但计算量小 ,速度快 ,而且极大地降低了去包裹操作引起的相位信息变形失真的可能性 ,保证了较高的相位恢复精度。该算法在连续平滑相位相移干涉测量中具有很好的实用性

引用

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