基于遗传算法的转移阻抗测试装置优化设计

被引：3

作者：

雷震

蒋全兴

机构：

[1] 东南大学机械工程系电磁兼容研究所

来源：

电波科学学报 | 2007年 / 01期

关键词：

衬垫转移阻抗; 电路模型; 遗传算法; 多目标优化;

D O I：

10.13443/j.cjors.2007.01.013

中图分类号：

TM934.7 [驻波、阻抗的测量及仪器];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

提出了一种新的基于遗传算法的宽带电磁干扰(EMI)衬垫转移阻抗(TI)测试装置优化设计方法,获得了宽频带(0～2GHz)下的等效电路。以测试装置结构所决定的分布参数(L、C1、C2)为优化对象,以输入阻抗为优化目标,建立了衬垫测试系统的目标函数;优化前后输入阻抗理论值比较表明:采用优化的测试装置进行测试,输入阻抗误差显著减小,并且这一结论在通常意义下都有效。

引用

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