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CCD动态检测轨道不平顺的研究及数据分析
被引:4
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
谢小玲
王黎
论文数:
0
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机构:
西南交通大学应用物理系
王黎
高晓蓉
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机构:
西南交通大学应用物理系
高晓蓉
机构
:
[1]
西南交通大学应用物理系
[2]
西南交通大学应用物理系 成都
[3]
成都
来源
:
光电子技术与信息
|
2001年
/ 06期
关键词
:
CCD;
轨道不平顺;
动态检测;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP274.5 [];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
080402 ;
081002 ;
0835 ;
摘要
:
介绍基于CCD的动态检测轨道不平顺的方法,给出了系统检测的原理、总体结 构和软件处理流程.装置经过实际线路的试验证明是准确和可靠的,文章对试验做了数据分 析.
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[1]
CCD应用技术.[M].王庆有;孙学珠主编;.天津大学出版社.1993,
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