X射线荧光光谱薄膜法测定多金属矿样中常量Pb、Zn、Cu、Fe、Mn

被引：6

作者：

郑厚琳，吴名剑

机构：

[1] 中国有色金属工业总公司北京矿产地质研究所，中南工业大学化学系

来源：

关键词：

XRFA，Mylar膜，钒内标，Pb、Zn、Cu、Fe、Mn;

D O I：

10.13595/j.cnki.issn1000-0720.1994.0027

中图分类号：

P575.3 [微量化学分析];

学科分类号：

070901 ;

摘要：

本文拟定了一个Ｘ射线荧光光谱薄膜测定常见铅、锌、铜、锰矿中０．２～ｘｘ％Ｐｂ、Ｚｎ、Ｃｕ、Ｆｅ、Ｍｎ的方法。实验考察了制片重现性和样品分解可靠性对本法结果的关键性影响，采用酸溶、钒作内标、Ｍｙｌａｒ膜制片测量。手续简便、方法精密度和准确性符合有色地质分析质量要求。

引用

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