基于采集卡和Lab View的锁相放大技术在散射光测量中的应用

建立了基于采集卡和Lab View的正交锁相放大测量系统,探测超光滑表面散射光强(nW量级)。分析了该系统对外界杂散光干扰和电气噪声的消除和削弱能力。利用该系统和硬件锁相放大器SR830分别测量光电调制信号,两者抑制噪声和还原信号能力一致,前者可替代后者。