入射光的偏振特性对反射式近场光学显微镜成像结果的影响

被引：6

作者：

武清华

王桂英

徐至展

机构：

[1] 中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室,中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室,中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学开放实验室上海,上海,上海

来源：

光学学报 | 2003年 / 05期

关键词：

近场光学; 入射光的偏振特性; 反射式近场光学显微镜; 隐失场与传播场; 系统分辨率;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

用偶极子自洽场理论模拟计算了反射式近场光学扫描显微镜中入射光的偏振特性对近场成像结果的影响 (包括系统分辨率和相关的成像特性 ) ,并给予了相应的分析和解释。分析计算结果表明 ,入射光偏振性的选择将影响近场光学显微镜的成像质量。在近场区域 ,用垂直于样品表面偏振的入射光 (即z方向偏振 )照明成像将得到优于相应水平偏振 (即x方向偏振 )的入射光照明的系统分辨率。用x方向偏振的入射光照明时 ,所得光学图像会发生局部的光强对比度反转。

引用

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