加速退化试验与加速寿命试验技术综述

被引：48

作者：

王召斌 ^{[1
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]}

任万滨 ^{[1
]}

翟国富 ^{[1
]}

机构：

[1] 哈尔滨工业大学军用电器研究所

[2] 江苏科技大学电子信息学院

来源：

低压电器 | 2010年 / 09期

关键词：

加速退化试验; 加速寿命试验; 可靠性;

D O I：

暂无

中图分类号：

TB114.3 [可靠性理论]; V443 [电子设备];

学科分类号：

082501 [飞行器设计]; 100401 [流行病与卫生统计学];

摘要：

加速退化试验与加速寿命试验是解决高可靠性、长寿命产品可靠性评估等问题的两种重要加速试验技术。介绍了加速退化试验与加速寿命试验的基本概念,对两者进行了简单的比较,并进一步对加速退化试验与加速寿命试验技术的国内外相关研究现状进行了概述。最后,对该领域的研究方向进行了展望。

引用

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页数：6

共 12 条

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