SXR-CT技术应用研究烧结陶瓷三维微结构拓扑形貌

被引：14

作者：

景晓宁

胡小方

赵建华

王亚鸥

田玉莲

机构：

[1] 中国科学技术大学力学与机械工程系,中国科学技术大学力学与机械工程系,中国科学技术大学力学与机械工程系,DepartmentofMechanicalEngineering,TheOhioStateUniversity,中国科学院高能物理研究所安徽合肥,中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,安徽合肥,安徽合肥,中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,安徽合肥,安徽合肥,中国科学院材料力学行为和设计重点实验室,安徽合肥,Columbus,Ohio,北京

来源：

材料科学与工程学报 | 2003年 / 03期

关键词：

同步辐射硬X射线; SXR-CT技术; 烧结陶瓷; 微结构拓扑形貌; 密度分布;

D O I：

暂无

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业];

学科分类号：

081705 [工业催化];

摘要：

借助同步辐射硬X射线高强度 ,强穿透 ,高分辨和天然准直性的特性 ,应用卷积反投影重建算法实现CT三维重建技术 ,简称SXR CT(SynchrotronX RayComputedTomography) ,研究了氧化物陶瓷烧结体残余孔隙的三维拓扑微结构。同时量化计算了样品的孔隙率和密度 ,较好地符合实验测量数据

引用

页码：327 / 330

页数：4

共 4 条

[1]

BSRF白光动态形貌实验系统 [J].