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纳米计量及定位技术简述
被引:7
作者
:
吴一辉,王立鼎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中科院长春光机所
吴一辉,王立鼎
机构
:
[1]
中科院长春光机所
来源
:
仪器仪表学报
|
1995年
/ S1期
关键词
:
纳米计量;
纳米技术;
压电;
代表性;
定位方法;
定位法;
纳米定位技术;
执行元件;
定位精度;
原子尺度;
纳米级定位;
D O I
:
10.19650/j.cnki.cjsi.1995.s1.010
中图分类号
:
TB9 [计量学];
学科分类号
:
0804 ;
080402 ;
摘要
:
纳米计量和纳米定位是纳米技术的基础,是通向原子尺技术的关键。本文概述了纳米计量和定位技术的现状,分析了具有代表性的计量及定位方法及其特点,指出了它们未来的发展趋势。
引用
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页码:47 / 50
页数:4
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