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基于ISS特征点结合改进ICP的点云配准算法
被引:61
作者
:
李仁忠
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机构:
西安工程大学电子信息学院
李仁忠
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杨曼
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田瑜
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刘阳阳
张缓缓
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机构:
西安工程大学电子信息学院
张缓缓
机构
:
[1]
西安工程大学电子信息学院
来源
:
激光与光电子学进展
|
2017年
/ 54卷
/ 11期
关键词
:
机器视觉;
点云配准;
特征提取;
初始配准;
精细配准;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TP391.41 [];
学科分类号
:
080203 ;
摘要
:
针对点云配准时间长、收敛缓慢、对应点匹配易错等缺点,提出一种基于内部形态描述子(ISS)特征点结合改进迭代最近点(ICP)的点云配准算法。首先采用ISS算法进行点云特征提取,并以快速点特征直方图进行特征描述,然后通过采样一致性算法完成点云的初始配准,使两片不同角度点云获得一个相对较好的初始位姿,最后通过k维树近邻搜索法加速对应点对的查找,以提高点云ICP精细配准效率。实验结果表明,与传统配准算法相比,该算法配准精度高,而且执行速度快。
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相关论文
共 10 条
[1]
三维点云数据配准技术研究.[D].黄行森.大连海事大学.2010, 08
[2]
基于RGB-D深度相机的室内场景重建
[J].
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机构:
梅峰
;
刘京
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移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
中国科学院大学
移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
刘京
;
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机构:
李淳秡
;
王兆其
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机构:
移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
王兆其
.
中国图象图形学报,
2015,
(10)
:1366
-1373
[3]
一种基于特征提取的点云自动配准算法
[J].
黄源
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东南大学自动化学院复杂工程系统测量与控制教育部重点实验室
黄源
;
达飞鹏
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东南大学自动化学院复杂工程系统测量与控制教育部重点实验室
达飞鹏
;
陶海跻
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东南大学自动化学院复杂工程系统测量与控制教育部重点实验室
陶海跻
.
中国激光,
2015,
42
(03)
:250
-256
[4]
基于几何特征和图像特征的点云自适应拼接方法
[J].
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机构:
伍梦琦
;
李中伟
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机构:
华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
武汉惟景三维科技有限公司
华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
李中伟
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钟凯
;
史玉升
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华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
史玉升
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光学学报,
2015,
35
(02)
:237
-244
[5]
基于Harris角点和SURF特征的遥感图像匹配算法
[J].
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葛盼盼
;
陈强
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南京理工大学计算机科学与技术学院
陈强
;
顾一禾
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南京理工大学计算机科学与技术学院
顾一禾
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计算机应用研究,
2014,
31
(07)
:2205
-2208
[6]
基于随机抽样一致算法的误匹配标志点校正方法
[J].
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雷玉珍
;
李中伟
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华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
李中伟
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钟凯
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王从军
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华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
王从军
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光学学报,
2013,
33
(03)
:212
-219
[7]
基于点云数据的复杂型面数字化检测技术研究
[J].
张学昌
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上海交通大学机械与动力工程学院
张学昌
;
习俊通
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习俊通
;
严隽琪
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上海交通大学机械与动力工程学院
严隽琪
.
计算机集成制造系统,
2005,
(05)
:770
-774+780
[8]
三维扫描系统中的数据配准技术
[J].
罗先波
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清华大学机械工程系
罗先波
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钟约先
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钟约先
;
李仁举
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清华大学机械工程系
李仁举
.
清华大学学报(自然科学版),
2004,
(08)
:1104
-1106
[9]
Point set augmentation through fitting for enhanced ICP registration of point clouds in multisensor coordinate metrology
[J].
论文数:
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机构:
Senin, N.
;
Colosimo, B. M.
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Politecn Milan, Dip Meccan, Milan, Italy
Univ Perugia, Dip Ingn Ind, I-06125 Perugia, Italy
Colosimo, B. M.
;
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机构:
Pacella, M.
.
ROBOTICS AND COMPUTER-INTEGRATED MANUFACTURING,
2013,
29
(01)
:39
-52
[10]
An accurate and fast point-to-plane registration technique
[J].
Park, SY
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机构:
SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
Park, SY
;
Subbarao, M
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SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
Subbarao, M
.
PATTERN RECOGNITION LETTERS,
2003,
24
(16)
:2967
-2976
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共 10 条
[1]
三维点云数据配准技术研究.[D].黄行森.大连海事大学.2010, 08
[2]
基于RGB-D深度相机的室内场景重建
[J].
论文数:
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机构:
梅峰
;
刘京
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机构:
移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
中国科学院大学
移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
刘京
;
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机构:
李淳秡
;
王兆其
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移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
移动计算与新型终端北京市重点实验室,中国科学院计算技术研究所
王兆其
.
中国图象图形学报,
2015,
(10)
:1366
-1373
[3]
一种基于特征提取的点云自动配准算法
[J].
黄源
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东南大学自动化学院复杂工程系统测量与控制教育部重点实验室
黄源
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达飞鹏
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达飞鹏
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陶海跻
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陶海跻
.
中国激光,
2015,
42
(03)
:250
-256
[4]
基于几何特征和图像特征的点云自适应拼接方法
[J].
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机构:
伍梦琦
;
李中伟
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华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
武汉惟景三维科技有限公司
华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
李中伟
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钟凯
;
史玉升
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华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
史玉升
.
光学学报,
2015,
35
(02)
:237
-244
[5]
基于Harris角点和SURF特征的遥感图像匹配算法
[J].
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葛盼盼
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陈强
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顾一禾
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顾一禾
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计算机应用研究,
2014,
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(07)
:2205
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[6]
基于随机抽样一致算法的误匹配标志点校正方法
[J].
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李中伟
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王从军
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华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室
王从军
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光学学报,
2013,
33
(03)
:212
-219
[7]
基于点云数据的复杂型面数字化检测技术研究
[J].
张学昌
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上海交通大学机械与动力工程学院
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习俊通
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严隽琪
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严隽琪
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计算机集成制造系统,
2005,
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[8]
三维扫描系统中的数据配准技术
[J].
罗先波
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清华大学机械工程系
李仁举
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清华大学学报(自然科学版),
2004,
(08)
:1104
-1106
[9]
Point set augmentation through fitting for enhanced ICP registration of point clouds in multisensor coordinate metrology
[J].
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Colosimo, B. M.
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Univ Perugia, Dip Ingn Ind, I-06125 Perugia, Italy
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Pacella, M.
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ROBOTICS AND COMPUTER-INTEGRATED MANUFACTURING,
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[10]
An accurate and fast point-to-plane registration technique
[J].
Park, SY
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机构:
SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
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Subbarao, M
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SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
SUNY Stony Brook, Coll Engn & Appl Sci, Dept Elect & Comp Engn, Stony Brook, NY 11794 USA
Subbarao, M
.
PATTERN RECOGNITION LETTERS,
2003,
24
(16)
:2967
-2976
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