基于NIOSⅡ软核处理器的嵌入式测试系统软硬件设计研究

被引:13
作者
张荣
黄海莹
李春枝
卫剑峰
蒋宇
机构
[1] 中国工程物理研究院总体工程研究所
关键词
NIOSⅡ软核处理器; 嵌入式测试系统; 单片机; FPGA; A/D;
D O I
10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2012.02.048
中图分类号
TP368.1 [微处理机]; TP274 [数据处理、数据处理系统];
学科分类号
081201 ; 0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;
摘要
介绍了利用NIOSⅡ软核处理器设计嵌入式测试系统的两类系统架构,详细讲述了基于NIOSⅡ软核处理器的嵌入式测试系统软硬件设计方法;最后结合EP2C8Q-208C8型FPGA芯片,利用Verilog语言描述A/D芯片的工作时序逻辑,利用NIOSⅡ软核处理器设计串口处理单元,将A/D采集的数据通过串口发送到计算机显示。实践表明,利用NIOS II软核处理器设计嵌入式测试系统,具有开发周期短,系统集成度高,功能灵活多样等特点,与传统利用单片机设计嵌入式测试系统相比,具有时钟频率高、运行速度快、调试方便等特点,是一种值得推广的嵌入式测试系统设计方法。
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页码:303 / 306
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