X射线荧光光谱法检验标准物质的均匀性

X荧光光谱是检验标准物质均匀性常用的方法之一。制样和仪器的漂移是重要的误差来源。强度或表观浓度的测定误差通常小于浓度的测定误差。XRF分析中真正的取样量应是极限厚度内实际起作用的这部分样品。该数量符合一般标准物质均匀性检验的取样量。判断标准物质均匀性的关键是不均匀性误差的大小是否符合该标准物质对均匀性的要求。本工作为均匀性检验的数据处理编制了一个方便、实用的计算机程序。