高压开关触头超声C扫描图象缺陷阈值的标定

被引:3
作者
陈自强
梅林
陈怀东
薛锦
张旭宏
陈敏健
程秋云
机构
[1] 西安交通大学!西安710049
[2] 西安高压开关厂!西安710077
关键词
电触头; C扫描; 标算法; 标定; 钎着率; 阈值;
D O I
10.13336/j.1003-6520.hve.1999.02.030
中图分类号
TM564 [各种开关];
学科分类号
080801 ;
摘要
利用人工缺陷对高压开关电触头超声C扫描成象检测参数进行了标定。其中对关键参数之一——图象缺陷阈值的确定采用了一种新的算法(过标算法)。经过对C扫描的试样进行解剖分析并与C扫描图象计算的钎着率对比,结果非常吻合。
引用
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页码:74 / 75+78 +78
页数:3
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共 1 条
[1]   超声C扫描成象在高压开关触头钎焊质量检验中的应用 [J].
马宏伟 ;
张广明 ;
陈自强 ;
王裕文 ;
薛锦 .
高电压技术, 1998, (01) :59-61