共 1 条
高压开关触头超声C扫描图象缺陷阈值的标定
被引:3
作者:
陈自强
梅林
陈怀东
薛锦
张旭宏
陈敏健
程秋云
机构:
[1] 西安交通大学!西安710049
[2] 西安高压开关厂!西安710077
来源:
关键词:
电触头;
C扫描;
标算法;
标定;
钎着率;
阈值;
D O I:
10.13336/j.1003-6520.hve.1999.02.030
中图分类号:
TM564 [各种开关];
学科分类号:
080801 ;
摘要:
利用人工缺陷对高压开关电触头超声C扫描成象检测参数进行了标定。其中对关键参数之一——图象缺陷阈值的确定采用了一种新的算法(过标算法)。经过对C扫描的试样进行解剖分析并与C扫描图象计算的钎着率对比,结果非常吻合。
引用
收藏
页码:74 / 75+78
+78
页数:3
相关论文