PTFE多孔膜驻极体电荷储存稳定性的机理研究

被引：2

作者：

崔黎丽

江键

夏钟福

宋聚平

陈钢进

张冶文

机构：

[1] 第二军医大学

[2] 同济大学

来源：

应用科学学报 | 1999年 / 04期

关键词：

多孔聚四氟乙烯; 驻极体; 电荷稳定性; 电荷输运;

D O I：

暂无

中图分类号：

O484 [薄膜物理学];

学科分类号：

080501 ; 1406 ;

摘要：

借助于等温表面电位衰减、开路热刺激放电电流测量等方法较系统地研究了充电后的聚四氟乙烯（ＰＴＦＥ）多孔材料的空间电荷贮存稳定性，并和同等条件下的高密度ＰＴＦＥ薄膜驻极体的电荷稳定性进行了比较．通过热刺激放电电流谱（ＴＳＤ）分析和组合热脉冲技术探索了ＰＴＦＥ驻极体多孔膜内电荷重心的迁移规律，研究了多孔ＰＴＦＥ薄膜驻极体内脱阱电荷的输运规律．

引用

页码：384 / 388

页数：5

共 6 条

[1]

Im proved charge stability in polym er electrets quenched before charging. Xia Zhongfu. IEEE Trans, on EI . 1990

[2] 聚四氟乙烯驻极体的电荷贮存与输运 [J].

夏钟福 .

应用科学学报, 1992, (02) :174-180

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[4]

Electret. Sessler G M,ed. . 1987

[5]

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江键，江华，夏钟福 .

应用科学学报, 1995, (04) :447-451

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