机器视觉在铜带表面缺陷检测系统中的应用

被引：12

作者：

沈昱明

杨征兵

机构：

[1] 上海理工大学光电信息与计算机工程学院

来源：

关键词：

铜带; 表面缺陷; 机器视觉; 图像处理;

D O I：

10.19651/j.cnki.emt.2010.04.019

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

介绍了将机器视觉技术和LabVIEW图像处理技术应用于在线铜带表面检测的系统设计,以及系统的图像处理算法。系统采用两个面阵CCD摄像头同步采集铜带表面的图像,并通过LabVIEW图像开发模块对图像进行分析和处理,以得到铜带表面的缺陷情况。最后将缺陷图像数据进行分析并存储,根据结果适时发出警报。

引用

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