基于可测性分析和支持向量机的模拟电路故障诊断

被引：21

作者：

孙永奎 ^{[1
]}

陈光 ^{[1
]}

李辉 ^{[2
]}

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院

[2] 电子科技大学机电工程学院

来源：

仪器仪表学报 | 2008年 / 06期

关键词：

模拟电路; 故障诊断; 可测性分析; 支持向量机;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2008.06.012

中图分类号：

TN710 [电子电路];

学科分类号：

摘要：

针对低可测性模拟电路的测试问题,提出了一种模拟电路故障诊断的新方法。该方法首先计算被测电路的可测性,利用可测性提供的信息对被测电路进行模糊组划分,组成可诊断的元件集,并引入支持向量机完成对故障的分类识别。可测性分析理论上确定了被测电路可诊断的元件集,支持向量机结构简单,泛化能力强,以模拟和混合信号测试标准电路的实验结果证明了基于可测性分析和支持向量机的模拟电路故障诊断方法是有效的,其故障诊断率大于99%。

引用

页码：1182 / 1186

页数：5