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基于空间矩的灰度边缘亚像元度量精度分析
被引:6
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
孔丹
李介谷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海交通大学图像所
李介谷
机构
:
[1]
上海交通大学图像所
[2]
中科院自动化所模式识别国家重点实验室
来源
:
红外与激光工程
|
1998年
/ 02期
关键词
:
边缘检测,空间矩,形状定位,配准,图像处理,机器视觉,亚像元精度;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN215 [红外探测、红外探测器];
学科分类号
:
摘要
:
灰度图像中边缘定位受采样密度限制,亚像元精度度量方法在需要高精度的应用中受到重视。要想知道到底需要多高的分辨率才能达到给定精度指标,就有必要分析特征定位方法的最坏情况的精度。文中用分析和实验的方法给出了基于空间矩的边缘定位方法,对于边缘点、边缘直线以及直边缘区域的最坏情况定位精度分析。分析和讨论的结果不但可以用来确定已知形状位置估计的最大误差,而且还可用于对准的形状几何参数,以获得较高的精度。
引用
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