背散射电子成象在烃源岩微结构研究中的应用

被引:2
作者
S.Belin
赵林
机构
[1] 中科院地质新技术研究所
关键词
烃源岩; 背散射电子; 生油岩; 有机质含量; 碎屑矿物; 扫描电镜; 成岩作用; 地质作用; 有机岩石学; 矿物基质; 层状分布; 纹层; 细层; 烃类; 沉积环境; 地质环境; 微结构; 土壤结构;
D O I
暂无
中图分类号
P59 [地球化学];
学科分类号
070902 ;
摘要
以背散射电子(BSE)方式成象的扫描电镜(SEM),是研究烃源岩沉积学特征的一种强有力的工具,因为其空间和化学分辨率高,操作容易和速度快。所获得的图象取决于样品的不同成分之间的原子序较差异。若与能量分散X射线光谱分析法结合,有机岩石学家用BSE成象就能比用传统的光学显微镜更清楚地签定矿物和有机质。为了描述各有机质沉积物,特别是有机质分布的微结构的情况,已应用本方法对其不同沉积学和地球化学特征的烃源岩进行了检测。检测结果表明,有机质分布有两种模式,即纹层状模式和分散微粒模式。通过对沉积环境和成岩作用的研究,利用这些分布特征可追溯其沉积的来龙去脉。有机质的分布特征表明存在有机网络系统,据猜测后者是烃类排出的一个主要控制因素。
引用
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页数:6
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