基于Markov随机场模型的纹理图像的缺陷检测

被引：2

作者：

舒坚 ^{[1
]}

胡茂林 ^{[2
]}

机构：

[1] 安徽大学计算机教学部

[2] 安徽大学智能计算与信息处理实验室

来源：

计算机技术与发展 | 2006年 / 05期

关键词：

纹理分析; Markov随机场模型; 缺陷检测;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP391.41 [];

学科分类号：

080203 ;

摘要：

在工业自动化研究中,部件的缺陷检测是非常重要的过程。文中提出了一种基于图像纹理分析的表面缺陷检测方法,图像表面纹理特征是利用Markov随机场模型来描述的,通过学习和聚类分析来检测出纹理图像中有缺陷的区域。试验结果表明,该方法可以有效地描述不同种物质表面的纹理特征,并能准确地检测和定位缺陷。

引用

页码：65 / 67

页数：3

共 4 条

[1]

Fabric Defect Detection usingadaptive wavelet transform. Li Li-qing,Huang Xiubao. Journal of Dong Hua Universi-ty . 2002

[2]

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[3]

Automated Inspection ofTextile Fabrics using texture models. Cohen F S,Fan Zhigang,Attali S. IEEE Transactionson Pattern Analysis and Machine Intelligence . 1991

[4]

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