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一种非均匀校正的新算法
被引：6
作者：
田丽珍
李庆辉
刘上乾
机构：
[1] 西安电子科技大学技术物理系!陕西西安
来源：
关键词：
焦平面器件;
IRFPA;
非均匀性校正;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN214.32 [];
学科分类号：
摘要：
本文在分析现行各种非均匀校正算法优缺点的基础上 ,根据红外焦平面器件探测单元响应曲线特点和神经网络理论 ,提出一种新的非均匀校正方法——“S”曲线模型算法。该算法能同时校正焦平面器件的非均匀性和非线性 ,并且具有动态范围大、存贮容量小和校正精度高等优点。
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