X射线荧光滤纸片法分析稀土样品谱线间干扰系数的求得和应用

被引：7

作者：

贺春福

刘学东

任红星

机构：

[1] 中国科学院长春应用化学研究所

来源：

关键词：

干扰系数; 分析元素; 滤纸片法; 稀土元素谱线; 干扰元素; 荧光; 弱光;

D O I：

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中图分类号：

学科分类号：

摘要：

<正> X射线荧光谱法分析稀土元素时,采用滤纸片法制样,引起测量误差的问题报道中已有讨论。由于滤纸上吸附样品量仅1—2mg,一般认为基体效应可以忽略,但稀土元素谱线间的干扰是严重的问题。本文主要是探讨稀土元素谱线间干扰系数的求得及将其应用于混合稀土样品分析。

引用

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