X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探

用开发的ＴＢＨＸＲＦ基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β，导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中，三次荧光的影响不能忽略，从对比实验中得出结论，对Ｎｉ浓度高的钢铁样品在分析Ｃｒ时，必须考虑Ｎｉ、Ｆｅ对ＣｒＫα的三次荧光效应影响。