X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探

被引:15
作者
谭秉和
龚武
孙伟莹
机构
[1] 北京科技大学化学系
关键词
X射线荧光分析,基体效应,基本参数法,不锈钢;
D O I
暂无
中图分类号
O657.34 [X射线荧光分析法];
学科分类号
摘要
用开发的TBHXRF基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β,导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中,三次荧光的影响不能忽略,从对比实验中得出结论,对Ni浓度高的钢铁样品在分析Cr时,必须考虑Ni、Fe对CrKα的三次荧光效应影响。
引用
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