仿真暗室天线近场测试研究

被引：12

作者：

柳锐锋 ^{[1
]}

甘连仓 ^{[2
]}

梁婷 ^{[1
]}

张部生 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国人民解放军部队

来源：

电子测量技术 | 2012年 / 35卷 / 12期

关键词：

近场; 天线方向图; 仿真暗室;

D O I：

10.19651/j.cnki.emt.2012.12.009

中图分类号：

TN820 [一般性问题];

学科分类号：

080906 [电磁信息功能材料与结构];

摘要：

对于普通的仿真暗室,由于很难避免仿真测试和天线方向图近场测试的相互影响,所以一般无法在该类暗室内完成天线近场测试。对于尺寸大、结构独特的仿真暗室,提出了它的综合利用问题,天线近场测试就是其中之一。介绍了天线近场测试技术,结合仿真暗室特点,提出了在仿真暗室中组建一套天线近场测试系统,并给出了详细的位置布置方案。通过分析仿真试验与天线近场测试的相互影响,认为可以在该仿真暗室完成非车载天线以及部分车载天线的近场测试。

引用

页码：38 / 40+45 +45

页数：4

共 9 条

[1]

基于最佳中继选择的认知网络功率分配 [J].