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X 射线正入射显微镜及其在 ICF 中的应用
被引：1
作者：
王占山
陈星旦
机构：
[1] 中国科学院长春光学精密机械研究所
来源：
关键词：
X射线正入射显微镜,多层膜,超光滑表面,滤光片,分辨率;
D O I：
暂无
中图分类号：
TH742.63 [];
学科分类号：
0803 ;
摘要：
全面叙述了Ｘ射线正入射显微镜的发展，探讨了影响正入射显微镜性能的关键技术问题，指出了其在等离子体诊断中的应用。
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