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叠层芯片封装技术与工艺探讨
被引:4
作者
:
孙宏伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡华润安盛科技有限公司
孙宏伟
机构
:
[1]
无锡华润安盛科技有限公司
来源
:
电子工业专用设备
|
2006年
/ 05期
关键词
:
叠层封装;
圆片减薄;
薄裸芯片贴装;
立体键合;
MSL;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN405.94 [];
学科分类号
:
摘要
:
论述了在叠层芯片封装的市场需求和挑战。首先采用在LQFP一个标准封装尺寸内,贴装2个或更多的芯片,这就要求封装体内每一个部分的尺寸都需要减小,例如芯片厚度、银胶厚度,金丝弧度,塑封体厚度等,要求在叠层封装过程中开发相应的技术来解决上述问题。重点就芯片减薄,银胶控制,无损化装片,立体键合,可靠性等进行了详细的介绍。
引用
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页码:65 / 74
页数:10
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