氢化物发生原子荧光法测定灵芝中的痕量锗

被引：22

作者：

宋雪洁

张峰

段太成

郭鹏然

陈杭亭

机构：

[1] 中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室,国家电化学和光谱研究分析中心,长春工程学院应用化学系,中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室,国家电化学和光谱研究分析中心,中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室,国家电化学和光谱研究分析中心,中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室,国家电化学和光谱研究分析中心长春,中国科学院研究生院,北京,毕业实习生,长春,长春,中国科学院研究生院,北京,长春

来源：

分析化学 | 2005年 / 09期

关键词：

锗; 氢化物发生; 原子荧光; 微波消解;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

建立了HG-AFS测定灵芝样品中总锗的方法,将微波密封消解应用于样品的处理,短时内成功地破坏了有机锗,同时避免了样品中存在的氯离子可能引起的元素损失。实验中优化了仪器的工作条件、锗氢化物发生最佳条件及微波消解程序。样品最优酸度为20%H3PO4,且5%H2SO4能增强锗的荧光强度。将干灰化法与微波密封酸消解法对植物样品的处理做了比较。本方法的检出限为0.83μg/L;相对标准偏差为1·26%;加入回收率为84.0%96.5%。本法可以较好的满足实际植物样品中锗的分析。

引用

页码：1307 / 1310

页数：4

共 4 条

[1] 氢化物发生-原子荧光光谱法测定地质试样中的痕量锗 [J].