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相移光栅磁场传感方案交叉敏感分析
被引:6
作者:

冯奎
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朱勇
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苏洋
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彭晖
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机构:
[1] 解放军理工大学通信工程学院
来源:
基金:
中国博士后科学基金;
关键词:
磁场测量;
相移光栅;
偏振相关损耗;
交叉敏感;
D O I:
暂无
中图分类号:
TN253 [光纤元件];
学科分类号:
摘要:
通过相移光栅的偏振相关损耗(PDL)进行磁场测量是一种较为新颖的磁场测量方法,可用于对脉冲交变强磁场的测量。交叉敏感问题是光纤光栅传感中的关键问题。忽略光栅固有双折射,利用传输矩阵法对磁场传感原理进行了推导与仿真,理论分析了温度、轴向应力和压力等对相移光栅透射窗口的影响,并对相应的PDL峰值变化进行了数值仿真。理论和实验表明,透射窗口峰值的波长随温度和轴向应力呈线性变化,PDL谱线发生横向平移,磁场传感系统不受影响。压力的变化改变了光栅的折射率分布,产生应力双折射,PDL谱线发生不规则变化,对磁场测量结果产生严重影响。
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彭晖
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苏洋
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李玉权
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陈鹏
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吴伟磊
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徐坤
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机构: 北京邮电大学光通信与光波技术教育部重点实验室

伍剑
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姜智鹏
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乔学光
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贾振安
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机构: 西安石油大学理学院

傅海威
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李明
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谢彦召
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王赞基
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王群书
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周辉
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刘志国
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郭转运
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袁树忠
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冯德军
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关柏鸥
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H.Y.Tam
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机构: 香港理工大学电机工程系!香港九龙

W.H.Chung
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机构: 电子工业部23研究所检测中心