基于斜率特征的模拟电路故障诊断新方法

被引：5

作者：

韩涵

王厚军

杨成林

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院

来源：

测控技术 | 2014年 / 33卷 / 01期

关键词：

模拟电路; 故障诊断; 可测性; 斜率特征;

D O I：

10.19708/j.ckjs.2014.01.010

中图分类号：

TN710 [电子电路];

学科分类号：

140101 [集成纳电子科学];

摘要：

针对低可测性模拟电路存在的模糊组问题,提出一种模拟电路故障诊断新方法。利用不同元件在电路可及节点间的斜率特征关系建立斜率测试矩阵,依据斜率测试矩阵准确找到电路中存在的模糊组和独立可测元件,从而确定可诊断集,然后利用支持向量机对故障进行诊断。斜率法优点在于不需要对电路拓扑结构进行分析,计算简便,支持向量机结构简单,泛化能力强。实验表明该方法具有良好的模拟电路故障诊断效果。

引用

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页数：4

共 5 条

[1]

Fault isolation in analog circuits using a fuzzy inference system.[J].M.A. El-Gamal;M. Abdulghafour.Computers and Electrical Engineering.2002, 1

[2]

SUPPORT-VECTOR NETWORKS [J].