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铜矿选矿流程中铜、铁、硫、硅、铝、钼和钛的X射线荧光光谱直接测定
被引:8
作者
:
袁汉章
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机构:
冶金部有色金属研究总院
袁汉章
吴长存
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冶金部有色金属研究总院
吴长存
卜赛斌
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机构:
冶金部有色金属研究总院
卜赛斌
张虎云
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冶金部有色金属研究总院
张虎云
许佩珍
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冶金部有色金属研究总院
许佩珍
武清富
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机构:
冶金部有色金属研究总院
武清富
机构
:
[1]
冶金部有色金属研究总院
来源
:
分析化学
|
1981年
/ 02期
关键词
:
直接测定;
共存元素;
荧光光谱;
选矿流程;
铜矿;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> 近年来国外已广泛采用x射线荧光光谱分析作为有色金属采矿、选矿、冶炼的流程控制分析。本文所研究的对象为干法矿样,其组成复杂,元素在其中所呈现的状态各不相同,试样的粒度不一致,而各元素的含量变动范围又很大。因此,如何消除试样的颗粒度影响,克服共存元素的基体效应,快速而准确地配合流程分析便是本法讨论的重点。为此采取了如下措施:以实际试样作标准试样;用振动磨样机计时磨样;采用经验系数法对共存元素
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页码:146 / 152
页数:7
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