概率统计在绝缘子污闪风险性评估中的应用

被引：8

作者：

牛春节

程养春

机构：

[1] 华北电力大学电气工程学院

来源：

高压电器 | 2009年 / 45卷 / 01期

关键词：

概率统计; 概率密度; 污闪风险性; 灰密; 盐密;

D O I：

10.13296/j.1001-1609.hva.2009.01.022

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

0805 ; 080502 ; 080801 ;

摘要：

笔者分析了灰密的概率密度分布,并推导出盐密与灰密的联合概率密度函数。在不考虑灰密和考虑灰密两种情况下,利用概率统计方法,推导出在恒定电压下,绝缘子的污闪概率计算方法,为评估线路可靠性、调度部门决策、绝缘子的维护以及新线路绝缘子的选型提供依据。

引用

页码：104 / 106

页数：3

共 6 条

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