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144名正常(牙合)中国人的X线头影测量研究
被引:38
作者
:
傅民魁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京医学院口腔矫形学教研组
傅民魁
毛燮均
论文数:
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引用数:
0
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机构:
北京医学院口腔矫形学教研组
毛燮均
机构
:
[1]
北京医学院口腔矫形学教研组
来源
:
北京医学院学报
|
1965年
/ 04期
关键词
:
平面角;
鼻根点;
恒牙期;
下中切牙;
替牙期;
齿槽座;
上下齿槽座角;
头影测量;
中国人;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
<正> X 线头影测量术(Cephalometric Roentgn-ography)自1931年由 Broadbent 及 Hofasth 创用,迄今已30余年。达一方法是测量 X 线头颅定位照象所得的影象。通过这种测量的分析,不仅可了解牙、颌、面软硬组织的结构情况,而能从牙、颌、面的表面形态深入到内部结构中去。通过分析错(牙合)畸形的 X 线头影,更能明了错(牙合)畸形的深部机制,而作出正确的诊断和矫治设计。由此可以提高口腔正畸学的矫治水平。
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页码:251 / 256
页数:6
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