金属氧化物IGZO薄膜晶体管的最新研究进展

被引:14
作者
刘翔 [1 ]
薛建设 [1 ]
贾勇 [1 ]
周伟峰 [1 ]
肖静 [2 ]
曹占峰 [1 ]
机构
[1] 京东方科技集团股份有限公司TFT-LCD器件与材料技术研究所
[2] 不详
关键词
薄膜晶体管; 氧化铟镓锌; 氧化物; 器件结构;
D O I
暂无
中图分类号
TN321.5 [];
学科分类号
摘要
最近几年,金属氧化物IGZO薄膜晶体管成为研究热点,具有高迁移率、稳定性好、制作工艺简单等优点,备受人们关注。文章综述了制作金属氧化物IGZO晶体管的结构及其优缺点,总结了影响金属氧化物IGZO薄膜晶体管性能的因素,并提出了制作高性能金属氧化物IGZO薄膜晶体管的方法。
引用
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相关论文
共 2 条
[1]  
Ionic amorphous oxide semiconductors: Material design, carrier transport, and device application[J] . Hideo Hosono.Journal of Non-Crystalline Solids . 2006 (9)
[2]  
Highly Reliable Oxide-Semiconductor TFT for AM-OLED Display. Toshiaki Arai,Narihiro Morosawa,Kazuhiko Tokunaga,et al. SID Symposium Digest . 2010