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ZnO压敏元件雷电流冲击试验残压波形分析
被引:6
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
卢振亚
杨凤金
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华南理工大学材料学院
杨凤金
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
江涛
庄严
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华南理工大学材料学院
庄严
机构
:
[1]
华南理工大学材料学院
[2]
广州华盛避雷器实业有限公司
[3]
中国电子科技集团公司第七研究所
来源
:
电子元件与材料
|
2004年
/ 04期
关键词
:
ZnO压敏元件;
残压波形;
波前尖峰;
电感性;
D O I
:
10.14106/j.cnki.1001-2028.2004.04.010
中图分类号
:
TN304.93 [];
学科分类号
:
摘要
:
研究了ZnO压敏元件在8/20 ms雷电波冲击试验时的残压波形。实验观察到残压波波前尖峰来源于所采用的放电回路触发元件——铜球间隙;在RLC回路临界点附近,随着冲击电流峰值的增大,残压波波尾从非振荡衰减过渡到大幅度的过零振荡;残压波峰值超前于电流波峰值,说明ZnO压敏元件在冲击电流作用下呈现出电感性,且放电电流越大,呈现的电感性越大;元件厚度越大,呈现的电感性也越大。
引用
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页码:29 / 32+35 +35
页数:5
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[1]
电工基础.[M].赵忠仁;张秀珍主编;.中国广播电视出版社.1992,
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