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同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件样品中149Sm和150Sm含量
被引:3
作者
:
李思林
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机构:
中国原子能科学研究院
李思林
高淑琴
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机构:
中国原子能科学研究院
高淑琴
机构
:
[1]
中国原子能科学研究院
来源
:
质谱学报
|
1992年
/ 02期
关键词
:
同位素稀释;
质谱法;
149Sm;
150Sm;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文描述用同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件中149Sm和150Sm含量的方法步骤,研究了149Sm、150Sm沿反应堆元件的轴向分布规律。
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页码:19 / 22
页数:4
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