实施SPC过程中合格率与Cpk值辨析

被引:3
作者
刘建
机构
[1] 工业和信息化部电子第五研究所
关键词
合格率; 工序能力指数; 统计过程控制; 电子元器件;
D O I
暂无
中图分类号
TB114.2 [工程控制论];
学科分类号
080807 [电机系统及其控制];
摘要
工序能力指数(Cpk)值可以换算出成品率,但成品率与工序合格率并不相同,不能混为一谈。但在实际工作中,经常会出现将两者相比对的情形。针对Cpk成品率与工序合格搴的异同进行了辨析,并指出只有Cpk在检验合格的工序产品的基础上进行统计,对国内某些电子元器件企业才具有现实的工序提升指导作用。
引用
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共 2 条
[1]
统计过程控制与评价.[M].贾新章;李京苑编著;.电子工业出版社.2004,
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对统计学中若干理论应用问题的反思 [J].
杨立勋 .
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