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实施SPC过程中合格率与Cpk值辨析
被引:3
作者
:
刘建
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
工业和信息化部电子第五研究所
刘建
机构
:
[1]
工业和信息化部电子第五研究所
来源
:
电子产品可靠性与环境试验
|
2012年
/ 30(S1)卷
/ S1期
关键词
:
合格率;
工序能力指数;
统计过程控制;
电子元器件;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TB114.2 [工程控制论];
学科分类号
:
080807
[电机系统及其控制]
;
摘要
:
工序能力指数(Cpk)值可以换算出成品率,但成品率与工序合格率并不相同,不能混为一谈。但在实际工作中,经常会出现将两者相比对的情形。针对Cpk成品率与工序合格搴的异同进行了辨析,并指出只有Cpk在检验合格的工序产品的基础上进行统计,对国内某些电子元器件企业才具有现实的工序提升指导作用。
引用
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页码:238 / 241
页数:4
相关论文
共 2 条
[1]
统计过程控制与评价.[M].贾新章;李京苑编著;.电子工业出版社.2004,
[2]
对统计学中若干理论应用问题的反思
[J].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨立勋
.
江苏统计,
1999,
(08)
:12
-14
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