染污光滑圆柱绝缘子沿面电场分布对闪络过程的影响

被引:6
作者
顾乐观
张建辉
孙才新
机构
[1] 重庆大学
[2] 重庆大学 重庆
关键词
绝缘子; 电场; 污秽; 网络;
D O I
10.13334/j.0258-8013.pcsee.1993.s1.013
中图分类号
学科分类号
摘要
本文采用部分优化模拟电荷法和Pockels场强测量仪,对染污光滑圆柱绝缘子在出现局部电弧前后以及局部电弧处于不同位置时的沿面电场分布进行了数值仿真计算和实测。根据计算和实测结果,系统分析了各种情况下的电场分布对光滑圆柱绝缘子污闪过程中局部电弧向前延伸发展的影响。
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共 1 条
[1]   染污绝缘子沿面电场分布与局部电弧发展的关系 [J].
孙才新 ;
顾乐观 ;
谢军 ;
张建辉 ;
舒立春 .
中国科学(A辑 数学 物理学 天文学 技术科学), 1991, (10) :1113-1120