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一种基于MCD相关跟踪的投影特征快速提取方法
被引：2
作者：
宁静涛
韩焱
桂志国
机构：
[1] 华北工学院电子信息工程系
来源：
关键词：
相关跟踪;
投影特征;
特征提取;
MCD;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP274.5 [];
学科分类号：
摘要：
针对产品内部复杂精密元件射线成像检测中有效、快捷的特征提取问题 ,在分析 MCD(MaximumClose Distance)相关跟踪算法的优缺点的基础上 ,提出了一种基于 MCD相关跟踪的投影特征快速提取方法 ,它保留了 MCD算法的抗干扰能力、匹配精度高的优点 ,同时将大量的信息压缩为少量的投影特征 ,减小了计算量 ,提高了检测速度
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