微波消解等离子体光谱法测定高纯氧化铝中杂质元素

被引：6

作者：

王倩

明芳

机构：

[1] 中铝贵州分公司轻金属研究所化验室

[2] 中铝贵州分公司氧化铝厂化验室

来源：

冶金分析 | 2003年 / 04期

关键词：

等离子体光谱; 微波消解; 高纯度氧化铝;

D O I：

10.13228/j.issn.1000-7571.2003.04.020

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

摘要：

建立了微波消解等离子体发射光谱法测定高纯氧化铝中杂质元素的新方法。利用等离子体光谱仪的优异性能 ,通过对基体效应、光谱干扰、等离子体测定条件等方面的考察 ,确定了高纯氧化铝中微量元素Si,Fe ,Cu ,Mg的检测条件。各金属离子平均回收率为 93 8%～ 112 % ,相对标准偏差RSD为 1 3 %～ 8 1%。本方法可准确、快速、连续测定高纯氧化铝中的杂质元素

引用

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