测定六方石墨堆垛无序度的X射线衍射新方法

被引：8

作者：

李辉 ^{[1
]}

杨传铮 ^{[2
]}

刘芳 ^{[1
]}

机构：

[1] 上海杉杉科技有限公司

[2] 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

来源：

中国科学(B辑:化学) | 2008年 / 09期

关键词：

堆垛无序; 石墨; X射线衍射; 层错层宽化效应;

D O I：

暂无

中图分类号：

O613.71 [碳C];

学科分类号：

070301 [无机化学];

摘要：

XRD实验发现六方石墨的堆垛无序宽化效应与密堆六方堆垛层错层宽化效应的特点相同,具有明显的选择宽化.作者改进Langford处理六方ZnO的微晶-层错二重宽化效应的方法,并成功地用于2H-石墨堆垛无序度的测定,无论是实验和数据处理都十分方便,便于推广.作者还提出2H-石墨中二种堆垛无序模型和数据处理方法,只要能获101,102两线条可信的半高宽,就能分别求得两种无序度PAB和PABC.

引用

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