ICP-AES直接测定锑产品中杂质元素

被引：7

作者：

袁齐

机构：

[1] 岭南铅锌集团公司冶炼研究所!韶关

来源：

光谱学与光谱分析 | 2001年 / 04期

关键词：

ICP-AES; 锑产品; 杂质元素;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

摘要：

建立了ICP AES直接测定锑产品中杂质元素的新方法。在折衷工作条件下锑的浓度低于 5mg·mL-1不干扰测定。As、Cu、Fe、Pb、Se的检出限满足分析要求。混合标准回收率 94 0 %～ 10 7 1% ,相对标准偏差 <5 % ,结果满意。

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页数：2

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共 2 条

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