可溶盐成分对绝缘子表面污秽度评估的影响

被引：26

作者：

魏旭 ^{[1
]}

周志成 ^{[1
]}

赵晨龙 ^{[2
]}

高嵩 ^{[1
]}

梅红伟 ^{[2
]}

王黎明 ^{[2
]}

机构：

[1] 国网江苏省电力公司电力科学研究院

[2] 不详

来源：

高电压技术 | 2013年 / 39卷 / 12期

关键词：

可溶盐成分; 表面电导率; 污闪电压; 绝缘子; 自然污秽试验; 人工污秽试验;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管];

学科分类号：

摘要：

绝缘子表面污秽成分及其受潮情况与其污闪特性紧密相关,为此首先结合电导率测量,研究了自然污秽的可溶盐成分对于绝缘子表面污秽度的影响,并定量分析了CaSO4对等值盐密的贡献。然后以NaCl和CaSO4分别代表污秽中的易溶盐与难溶盐成分进行了人工污秽试验,通过改变污秽中可溶盐的成分与含量,研究了2类可溶盐对绝缘子泄漏电流及污闪电压的影响。结果表明:高湿度情况下的污秽表面电导率主要由盐的溶解度、含量和提供导电离子能力3者综合决定。污秽中可溶盐仅为CaSO4的绝缘子串,在低湿度条件泄漏电流都保持在极小范围,只有在完全饱和受潮条件下才具有良好导电性。NaCl和CaSO4混合盐人工污秽试验证明:绝缘子表面外绝缘性能主要由易溶盐(如NaCl)所贡献,微溶盐(如CaSO4)对泄漏电流、闪络电压的影响较小。

引用

页码：3109 / 3115

页数：7

共 12 条

[1] 高海拔因素对绝缘子污闪特性的影响 [J].